激光粒度分析儀

簡要描述：測量范圍：0.1μm-1000μm
重復性誤差：< 1% (標樣D50偏差)
準確性誤差：< 1% (標樣D50偏差)

產(chǎn)品型號： BT-2001

所屬分類：粉塵儀

更新時間：2024-08-21

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BT-2001激光粒度分析儀—干濕法兩用激光粒度分析儀

        BT-2001是國內(nèi)*的干濕法兩用的高性能激光粒度儀。干法制樣系統(tǒng)包括靜音空壓機、空氣過濾器、全自動干法分散系統(tǒng)、樣品收集器等部分組成。在干法狀態(tài)下，樣品通過自動干粉進樣器均勻輸送到高壓氣流中，在高壓氣流的帶動下連續(xù)高速噴射到分散器中，在到達分散器出口處樣品已經(jīng)被充分分散，穿過BT-2001激光粒度儀的激光束之后樣品進入收集器中，同時電腦立刻顯示出粒度分布信息。濕法制樣系統(tǒng)是BT-800自動循環(huán)分散系統(tǒng)，包括攪拌器、超聲波分散器、循環(huán)泵、測試窗和管路等。用于干法測試和濕法測試的測試窗可以很方便地互換，真正實現(xiàn)一機多用。BT-2001激光粒度儀的測試部分采用進口的半導體激光器和高靈敏度光電接收器陣列，采用多通道數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路與串行數(shù)據(jù)傳輸方式，配合自動對中系統(tǒng)等一系列精良的技術(shù)和制造工藝，使該儀器具有準確可靠、測試速度快、重復性好、操作簡便、適用領域廣泛等突出特點。該儀器尤其適合對不能用濕法進行粒度測試的行業(yè)（如磁性材料、醫(yī)藥、水泥等）和綜合研究機構(gòu)以及大專院校實驗室應用。 

一、性能指標

干法： 
測試范圍：0.1μm -1000μm 
進樣方式：空氣連續(xù)噴射 
重復性誤差：≤ 3% （標樣D50偏差） 
準確性誤差：≤ 3% （標樣D50偏差） 
測量原理：米氏散射理論 
激光光源：進口半導體激光器 
軟件運行環(huán)境：WinXP / Win7 
接口方式：RS232或USB方式 
光電探測器：形狀：扇形；數(shù)量80個（前向72個，側(cè)向8個） 
分散介質(zhì)：壓縮空氣或惰性氣體 
壓力：0.1-0.8Mpa連續(xù)可調(diào) 
氣體流量：400-6000 L/min 
樣品用量：5g-20g

濕法： 
測量范圍：0.1μm-1000μm 
重復性誤差：< 1% （標樣D50偏差） 
準確性誤差：< 1% （標樣D50偏差） 
測量原理：米氏散射理論 
激光光源：進口半導體激光器 
超聲波功率：50W 
循環(huán)池容積：500ml 
循環(huán)流量：500-2500ml/分鐘 
攪拌器轉(zhuǎn)速：500-2500轉(zhuǎn)/分鐘

二、適用領域
干法適用領域 
各種磁性材料：如釹鐵硼粉、軟磁粉、硬磁粉、鐵氧體、鈷粉、鐵粉等磁性材料。 
不宜用濕法測試的粉體：如水泥、西藥、中藥、保健品、食品、化工材料等。 
具有疏水特性的粉體，如改性的各種礦粉、有機化合物粉。 
濕法適用領域 
各種非金屬粉：如碳酸鈣、滑石粉、高嶺土、硅酸鋯、硅灰石、石墨、粉石英、電氣石、云母、重晶石、石膏、膨潤土、金剛石、石英、硅藻土、長石、透閃石、粘土、石榴石、蛭石、鈦白粉等。 
各種金屬粉：如鋁粉、鐵粉、鎂粉、鉬粉、銅粉、鋅粉以及其他稀有金屬粉和各種合金粉等。 
其它粉體：如醫(yī)藥、農(nóng)藥、磨料、食品、水泥、陶瓷、土壤、顏料、科研教學、石油勘探、地質(zhì)分析、河流泥沙、電子材料、化工材料、軍工材料、電池材料、各種乳濁液、涂料等。 
三、基本特點
集干法測試和濕法測試于一體，干、濕法均為模塊化設計，轉(zhuǎn)換僅需要兩分鐘。整個系統(tǒng)幾乎適合所有粉體的粒度測試。 
干法制樣系統(tǒng)中，加樣、送氣、測試、收集等操作均由電腦統(tǒng)一控制，按事先設定好的程序自動完成，操作簡便。 
采用*設計的干法分散系統(tǒng)，通過剪切、慣性、碰撞等方法保證粉體在通過測量窗口時處于充分分散狀態(tài)。 
采用無油靜音空氣壓縮機，配以高效濾水器，保證產(chǎn)生純凈壓縮空氣的同時，還具有噪音小、自啟動、自停車、運行時間長等優(yōu)點。 
濕法樣品制備系統(tǒng)具有自動進水、自動排水、自動清洗、超聲分散定時、流量調(diào)整、水位檢測等功能，操作簡便，分散*，測試準確。 
由精密混合式步進電機，精密導軌、絲杠、連接軸以及細分控制器組成的三維自動對中系統(tǒng)，zui小步距1.3微米，保證激光束焦點始終照在探測器中心點上，提高測試結(jié)果的準確性。 
*的準確性標定功能：所有儀器都通過標準樣品的標定，充分保證儀器測試結(jié)果的準確性。同時，隨儀器向用戶提供標準樣品，用戶可以隨時檢驗儀器的準確性，避免因為儀器漂移、電壓波動等因素使測試結(jié)果不準而帶來的損失。